شاخص جهانی ثبت اختراع

این وبینار، مزایای اصلی جستجوی اطلاعات ثبت اختراع با استفاده از شاخص جهانی ثبت اختراع (GPI) را پوشش می‌دهد. این فرصت جستجو، ترکیبی از داده‌های کتاب‌شناختی و شرایط حقوقی است که به کاربران اجازه می‌دهد تا هنگام مرور نتایج جستجو و ارزیابی محتوای اسناد پتنت، عملکرد سریع و مؤثرتری داشته باشند. استفاده از داده‌های پتنت برای پشتیبانی از تصمیم‌گیری در فضای کسب‌وکار، بخش دیگر این وبینار ارزشمند محسوب می‌شود.

نوع رویداد

وبینار

محل برگزاری

آلمان آلمان

هزینه ثبت نام

رایگان

حوزه‌های رویداد

جستجوی پتنت

مرکز / مراکز برگزارکننده

EPO, Patent Information Promotion & Training

برنامه زمانی

۲۱ اسفند ۱۳۹۹ ۱۶:۳۰ ۱۷:۳۰