سیستم‌های طبقه‌بندی «CPC» و «IPC» در پایگاه داده «PATENTSCOPE»

پایگاه داده «PATENTSCOPE»، دسترسی کاربران به درخواست‌های به ثبت رسیده ذیل پیمان همکاری ثبت اختراع (PCT) را از تاریخ انتشار آن‌ها فراهم می‌سازد. این پایگاه همچنین اسناد پتنت مرتبط با دفاتر ملی و منطقه‌ای ثبت اختراع را نیز در خود جای داده است. با توجه به حجم عظیم داده‌های اطلاعاتی موجود در این پایگاه، استفاده از آن برای علاقه‌مندان و کاربران، نیازمند آگاهی از تکنیک‌ها و روش‌های جستجوی مناسب و چگونگی بهره‌برداری از اطلاعات هر یک از اسناد موجود در آن است. علاوه بر این، آشنایی با سیستم‌های طبقه‌بندی استاندارد به‌ویژه «CPC» و «IPC» هم حائز اهمیت است. این وبینار، در همین راستا و با هدف مرور اجمالی سیستم‌های طبقه‌بندی پتنت در پایگاه داده «PATENTSCOPE» برگزار خواهد شد.

نوع رویداد

وبینار

محل برگزاری

سوئیس سوئیس

هزینه ثبت نام

رایگان

حوزه‌های رویداد

جستجوی پتنت

مرکز / مراکز برگزارکننده

سازمان جهانی مالکیت فکری «WIPO»

برنامه زمانی

۲۸ مرداد ۱۴۰۰ ۱۱:۰۰ ۱۲:۰۰